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日期:2022-08-11本系列程控超高壓測(cè)試儀是針對(duì)高壓光耦合器及高壓繼電器、高壓開關(guān)、PV模組等絕緣耐受力較高的器件提供高壓的耐壓測(cè)試與分析,均采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀,其輸出電壓的大小、輸出電壓的上升、 下降、輸出電壓的頻率完全由MCU控制,能實(shí)時(shí)顯示擊穿電流值和電壓值,配備PLC、RS232C、RS485、USB、LAN接口,方便與計(jì)算機(jī)或PLC系統(tǒng)組成綜合測(cè)試系統(tǒng)。能夠快速、準(zhǔn)確地對(duì)家用電器、儀器儀表、照明電器、電動(dòng)電熱工具、計(jì)算機(jī)、信息類整機(jī)進(jìn)行安規(guī)測(cè)量。輸出的高壓所需的正弦波采用DDS原理產(chǎn)生,并采用負(fù)反饋技術(shù),使輸出的波形純凈穩(wěn)定。
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日期:2022-08-11
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